Июль 2017
Пн Вт Ср Чт Пт Сб Вс
26 27 28 29 30 1 2
3 4 5 6 7 8 9
10 11 12 13 14 15 16
17 18 19 20 21 22 23
24 25 26 27 28 29 30
31 1 2 3 4 5 6

Вакансии

Уникальное оборудование - уникальные возможности

Уникальное оборудование - уникальные возможности

Сканирующий зондовый микроскоп Cypher ES

Позволяет проводить эксперименты в жидкостях, газовой фазе при контролируемых условиях и температуре со следующими уникальными техническими возможностями:
• Введение и обмен газов/жидкостей в герметичной ячейке.
• Возможность работы с микрокаплей (< 20 мкл).
• Интегрированный контроль температуры.
• Химическая стабильность ячейки (совместима с органическими растворителями, кислотами, щелочами).


Технические характеристики:

• СЗМ сканер и блок подвода
Специальный сканер для использования в условиях окружающей среды, отличающихся от обычных.
- рабочий диапазон по осям XY -30/40 мкм ( с включенной/выключенной обратной связью);
- рабочий диапазон по оси Z - 5/7 мкм ( с включенной/выключенной обратной связью);
- независимые цифровые LVDT датчики с обратной связью для всех трех осей;

• Модуль обзора на кантиливер и образец
Система освещения на основе светодиодов и 3,1 Мпикс ПЗС видеокамеры.

• Базовый модуль лазерного диода - лазерный модуль с номинальным размером пятна на кантилевере 10x30 мкм.

• Набор для исследования электрических свойств и проводимости в контролируемой среде включающей - держатель для кантилевера с усилением 2нА/В (2е-9);
- ячейку для напуска газов с перфузией и низковольтными электрическими контактами;

• Специальный держатель для проведения исследований при помощи СТМ.

• Держатель для образцов с возможностью нагрева и охлаждения.
Диапазон температур: 0-120 'С.

• Дополнительный модуль лазерного диода с малым размером пятна. Лазерный модуль с номинальным размером пятна на кантилевере 3х9 мкм для использования с кантилеверами малого размера.

 
Методики сканирующей зондовой микроскопии:

Стандартные:
• контактный режим
• метод латеральных сил
• режим прерывистого контакта, включая цифровой контроль добротности колебаний кантилевера
• частотно-модулированная микроскопия
• технология, основанная на мультичастотном возбуждении кантилевера и поддерживает гармонические двухчастотные методики сканирования для получения топографии и механических свойств поверхности
• электро-силовая микроскопия
• метод зонда кельвина
• магнитно-силовая микроскопия
• микроскопия пьезо-отклика
• силовые измерения в контактном и полуконтактном режиме
• нанолитография
• сканирование в жидкости

Опциональные режимы:
•  микроскопия проводимости. Модуль ORCA обеспечивает низкотоковые измерения (~1пA – 10мкA) при постоянном поданном напряжении
• туннельная микроскопия
• AM-FM микроскопия для исследования вязкоупругих свойств образцов
• режим широкополосного возбуждение кантилевера для исследование механических и пьезоэлектрических свойств материала


Описание проводимых исследований

Вначале исследования проводятся методом атомно-силовой микроскопии в полуконтактном режиме, кантилеверами с относительно малыми коэффициентами жесткости для обеспечения высокой чувствительности, и избегания непосредственного воздействия зонда с образцом, что может привести к повреждению образца в поле сканирования или с высокими коэффициентами жесткости для обеспечения высокой точности сканирования и наилучшего качества (при первых исследованиях топография поверхности известна только теоретически).
Затем проводятся исследования методом атомно-силовой микроскопии в полуконтактном режиме, кантилеверами с высокими коэффициентами жесткости для обеспечения высокой точности сканирования и наилучшего качества сканирования проводятся при последующих исследованиях (топография поверхности известна, измерена шероховатость поверхности).
В исследование входит измерение топографии поверхности и измерение фазового контраста поверхности образца в двух областях с разрешением 512x512 точек. Размеры топографии поверхности и изображений фазового контраста: 30x30 мкм2, 15x15 мкм2 и 5x5 мкм2. Результатом исследований является 12 сканов.
Результат исследований предоставляется в виде файла с 12-тью изображениями топографии поверхости и измерения фазового контраста в формате .gwy, который можно посмотреть или отредактировать в бесплатном ПО, которое доступно для скачивания в интернете - Gwyddion.
Требования к исследуемому образцу:
- максимальные размеры подложки 13х13 мм,
- максимальная шероховатость (перепад по высоте) исследуемых объектов на подложке не более 3 мкм.