Услуги сканирующей зондовой микроскопии высокого разрешения
№ |
Наименование услуги |
Стоимость услуги, руб./образец |
1 |
Стандартное атомно-силовое исследование образцов на воздухе (в контактном или полуконтактном режимах) (максимальный размер образца – 13х13 мм) |
5000 |
2 |
Атомно-силовое исследование образцов с использованием различных методик (метод Кельвина, латеральных сил) |
6000 |
3 |
Атомно-силовое исследование образцов в капле жидкости (в контактном и полуконтактном режимах) |
6000 |
4 |
Сканирующая туннельная микроскопия проводящих материалов |
5000 |
5 |
Исследование проводимости образца в наномасштабе методом растекания тока |
6000 |
6 |
Атомно-силовое исследование кантилевером с повышенной жесткостью с частотой до 5 МГц для получения изображений высокой точности (данная опция доступна только в микроскопе Cypher) |
7000 |
7 |
Картирования по механической жесткости и адгезионной силе |
6000 |
8 |
Векторная и растровая литография |
6000 |
9 |
Магнитно-силовое исследование магнитных структур |
6000 |
10 |
Атомно-силовая и туннельная микроскопия в среде с заданными параметрами, такими как температура, давление (данная опция доступна только в микроскопе Cypher и используется преимущественно для биологических объектов) |
8000 |