Сборочное производство

IMG_1573.jpgСборочное производство «Зеленоградского нанотехнологического центра» осуществляет сборку кристаллов микросхем и датчиков в корпуса, проводит измерения электрических и функциональных параметров готовых изделий.

Производство оснащено комплектом новейшего оборудования от ведущих мировых фирм-производителей. Наиболее ответственные операции технологического процесса выполняются высокоточными автоматическими установками.

Производство размещено в чистом производственном помещении класса «10000» с турбулентной вентиляцией. Организована магистральная подача процессных газов, вакуума, пневматического питания, деионизованной воды и других энергоносителей.  


Основные направления деятельности:

  • Сборка кристаллов микросхем в металлокерамические   корпуса, в том числе LLC, BGA корпуса.
  • Сборка микроэлектромеханических систем (МЭМС) и датчиков в металлокерамические   корпуса.
  • Бескорпусная сборка кристаллов микросхем, микроэлектромеханических   систем и датчиков.
  • Отработка    технологий    сборки   и   штучный выпуск    специфических    изделий.
  • Выпуск специфических изделий:

      • системы в корпусе, многокристальные модули;
      • Flip-chip;
      • 3D высокоплотная интеграция микросхем (3D сборка);
      • встроенный монтаж компонентов (ИС и МЭМС).   

_IMG_2118.jpg





Ознакомиться с оборудованием Сборочного производства

Ознакомиться с услугами Сборочного производства (pdf)

Руководитель Сборочного производства:

Сидоренко Виталий Николаевич

E-mail: microsborka@zntc.ru

тел: (499) 720-69-46


Научные публикации

РАСЧЕТНО-АНАЛИТИЧЕСКИЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ КОНТАКТНЫХ ПЛОЩАДОК НА КРИСТАЛЛЕ //Технологии в электронной промышленности.-2013.-№5

                                                                                      

В статье экспериментально показано влияние параметров микросварочного инструмента, применяемого в процессе микросварки методом "клин-клин", на протяженность зоны взаимодействия микропроволоки с металлизацией подложки. Предложено аналитическое выражение, позволяющее расчетным путем определить такой параметр, как длина микросварного соединения, влияющий на размеры контактных площадок проектируемых кристаллов.

Скачать статью в формате pdf